Microanalyse à rayons X, des résultats d’une fiabilité absolue

Fonctions EDS, WDS et EBSD intégrées

Le système de microanalyse à rayons X Pathfinder, qui offre une résolution en énergie et une détection améliorée des éléments légers, est équipé d’un système électronique avancé, d’une résolution EDS optimale et d’une identification des phases d’après une base de données grâce à l’analyse par composante principale (PCA)

  • Spectroscopie WDS à rayons X et diffraction des électrons rétrodiffusés, totalement intégrés.
  • Modèles de données d’imagerie spectrale
  • Véritable cartographie de phase basée sur l’analyse de composantes principales, système avec notre logiciel breveté* Thermo Scientific™ COMPASS™
  • Système électronique ultra-rapide et suppression active des bruits, pour une qualité spectrale supérieure
  • Gamme complète de détecteurs EDS à angle solide le plus large possible.
  • Nouveau détecteur EDS compact à semi-conducteurs présentant une excellente performance EDS pour un faible encombrement.
  • Cartographie élémentaire SEM/TEM (MEB/MET) claire nette et très précise avec données quantitatives.

* COMPASS - brevet US US6584413"

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