Acquistare Microscopi Per Analisi Di Superficie

Acquistate microscopi in modo semplice: Scoprite tutti i prodotti e fornitori per analisi di superficie. Scoprite facilmente i prezzi dei prodotti richiedendo un preventivo. Suggerimento: Selezionare una voce rapida qui sotto per visualizzare i microscopi selezionati da Fornitore.

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LUMOS II da Bruker

Microscopia FT-IR in corsia di sorpasso - LUMOS II

Un microscopio a infrarossi per tutti

Il nostro obiettivo: massima qualità dei dati e velocità di misurazione ✓ Concetto operativo semplice: gli utenti vengono addestrati in pochi minuti ✓ Sostenibilità intelligente: non richiede costosi materiali di consumo ✓

Microscopi FT-IR Analisi-di-superficie automazione
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alpha300 R da WITec

microscopi Raman 3D con velocità, sensibilità e risoluzione senza pari

Visualizzazione e caratterizzazione di ogni dettaglio chimico

Solo la tecnologia ultrasensibile WITec combina le più alte prestazioni spettrali, la velocità e l'impareggiabile risoluzione 3D in un unico strumento

Microscopi Raman Analisi-di-superficie ricerca farmaceutica
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JEOL SEM Series da JEOL

Microscopia elettronica a scansione: sistemi flessibili per la ricerca e l'industria

Dai dispositivi da banco al FEG-SEM: soluzioni personalizzate per analisi precise

Ampia gamma di utenti, dai dispositivi desktop entry-level agli emettitori di campo ad alta risoluzione ✓ Dispositivi di misura durevoli, eccellente acquisizione dei dati, dimensioni compatte ✓ Contratti di assistenza efficienti e affidabili e opzioni accessorie personalizzate (EDX, WDX, EBSD, GatherX, ecc) ✓

Analisi-di-superficie analisi della microstruttura analisi di superficie
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HYPERION II da Bruker

Microscopio FT-IR e IR laser imaging (QCL) per la ricerca e lo sviluppo

Esaminare campioni macroscopici con risoluzione microscopica (5 µm) in pochi secondi

Microscopia e imaging (FT-)IR altamente sensibili con la massima velocità al limite di diffrazione ✓ Imaging laser a infrarossi preciso in tutte le modalità di misurazione (ATR, trasmissione, riflessione) ✓ Riduzione della coerenza brevettata per misure di imaging laser prive di artefatti alla massima velocità ✓

Microscopi FT-IR Analisi-di-superficie analisi dei guasti
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