DMi8 A da Leica

Microscopio invertito Leica DMi8 per applicazioni industriali

Vedere altri campioni

È possibile passare dalla visualizzazione macro (35 mm) a quella nano (1 nm) con un solo clic ✓ Maggiore dettaglio grazie all'esclusiva illuminazione UC-3D ✓ Gestione intuitiva ✓

DVM6 da Leica

NON CERCARE, TROVA!

Veloce, affidabile e facile da usare

Ricerca flessibile ✓ Analisi rapida e semplice dei vostri campioni ✓ Risultati affidabili ✓

DM8000 M & DM12000 M da Leica

Vedere di più, riconoscere più velocemente

Sistemi di ispezione per la massima produttività

Il design impedisce l'accumulo di polvere e i flussi angolari per una camera di analisi e ispezione pulita ✓ Massima risoluzione laterale con l'obiettivo UV 150X ✓ L'obiettivo USP 0,7x consente di ottenere un campo visivo più ampio e di ridurre i tempi di analisi ✓

LUMOS II da Bruker

Microscopia FT-IR in corsia di sorpasso - LUMOS II

Un microscopio a infrarossi per tutti

Il nostro obiettivo: massima qualità dei dati e velocità di misurazione ✓ Concetto operativo semplice: gli utenti vengono addestrati in pochi minuti ✓ Sostenibilità intelligente: non richiede costosi materiali di consumo ✓

DM6 M da Leica

Microscopio verticale per materiali

Tutto impostato e salvato

Azionamento della messa a fuoco motorizzato ad alta precisione a 2 velocità ✓ Ogiva motorizzata 6x o 7x ✓ Leica DM6 M + software = sistema di misura ideale per la massima precisione e ripetibilità ✓

ALPHA II da Bruker

Analisi chimica semplificata: sistema FT-IR compatto

Aumentate l'efficienza delle vostre analisi di routine con una tecnologia di facile utilizzo

Il software OPUS TOUCH semplifica l'esperienza dell'utente ✓ La tecnologia "RockSolid" garantisce la massima affidabilità e durata ✓ Il design compatto si adatta perfettamente alle applicazioni ✓

Emspira 3 da Leica

Ispirare semplici ispezioni

Ispezione con un unico sistema

Risparmiate tempo grazie alla rapida identificazione dei campioni ✓ Misurate e documentate direttamente durante l'ispezione visiva, senza l'ausilio di un PC ✓ Immagini chiare con un minor sforzo manuale ✓

CT Lab HV da Rigaku

Scanner CT ad alta tensione e ad alta risoluzione per la ricerca non distruttiva e l'ispezione industriale

Il CT Lab HV consente di visualizzare la struttura interna di campioni di piccole e grandi dimensioni in modo non distruttivo e ad alta risoluzione.

SpectraGenius da S.T.Japan

Il nuovo software indipendente dal produttore per la ricerca dello spettro - SpectraGenius

Facile da usare e affidabile - L'ingegnoso software per l'identificazione di successo delle sostanze

SpectraGenius legge oltre 60 diversi formati di spettro ✓ Algoritmi di ricerca veloci e pratici strumenti di visualizzazione ✓ Opzioni interattive di elaborazione dei dati per gli spettri ✓

JEOL SEM Series da JEOL

Microscopia elettronica a scansione: sistemi flessibili per la ricerca e l'industria

Dai dispositivi da banco al FEG-SEM: soluzioni personalizzate per analisi precise

Ampia gamma di utenti, dai dispositivi desktop entry-level agli emettitori di campo ad alta risoluzione ✓ Dispositivi di misura durevoli, eccellente acquisizione dei dati, dimensioni compatte ✓ Contratti di assistenza efficienti e affidabili e opzioni accessorie personalizzate (EDX, WDX, EBSD, GatherX, ecc) ✓