ParticleScout da WITec

Trovare le particelle automaticamente, classificarle con precisione e identificarle facilmente con la microscopia Raman

Analisi accelerata ed estremamente precisa di microplastiche, prodotti farmaceutici e alimenti o bevande

ParticleScout per la serie WITec alpha300: Trovare, classificare, quantificare e identificare le microparticelle è più facile e veloce che mai.

alpha300 R da WITec

microscopi Raman 3D con velocità, sensibilità e risoluzione senza pari

Visualizzazione e caratterizzazione di ogni dettaglio chimico

Solo la tecnologia ultrasensibile WITec combina le più alte prestazioni spettrali, la velocità e l'impareggiabile risoluzione 3D in un unico strumento

LUMOS II da Bruker

Microscopia FT-IR in corsia di sorpasso - LUMOS II

Un microscopio a infrarossi per tutti

Il nostro obiettivo: massima qualità dei dati e velocità di misurazione ✓ Concetto operativo semplice: gli utenti vengono addestrati in pochi minuti ✓ Sostenibilità intelligente: non richiede costosi materiali di consumo ✓

Cleanliness Expert da Leica

Rilevare rapidamente la contaminazione

Soluzioni per l'analisi della pulizia

Ottenere risultati più rapidamente ✓ Soddisfare in modo efficiente i requisiti attuali e futuri ✓ Ottenere una visione più approfondita delle particelle ✓

DMi8 A da Leica

Microscopio invertito Leica DMi8 per applicazioni industriali

Vedere altri campioni

È possibile passare dalla visualizzazione macro (35 mm) a quella nano (1 nm) con un solo clic ✓ Maggiore dettaglio grazie all'esclusiva illuminazione UC-3D ✓ Gestione intuitiva ✓

Ivesta 3 da Leica

Il nuovo stereomicroscopio combina alta risoluzione e grande profondità di campo

Immagini più chiare per ottenere risultati affidabili in tempi più brevi

Aumentate la vostra efficienza ✓ Risultati su cui potete contare ✓ Riconoscete più rapidamente i dettagli rilevanti ✓

DVM6 da Leica

NON CERCARE, TROVA!

Veloce, affidabile e facile da usare

Ricerca flessibile ✓ Analisi rapida e semplice dei vostri campioni ✓ Risultati affidabili ✓

DM8000 M & DM12000 M da Leica

Vedere di più, riconoscere più velocemente

Sistemi di ispezione per la massima produttività

Il design impedisce l'accumulo di polvere e i flussi angolari per una camera di analisi e ispezione pulita ✓ Massima risoluzione laterale con l'obiettivo UV 150X ✓ L'obiettivo USP 0,7x consente di ottenere un campo visivo più ampio e di ridurre i tempi di analisi ✓

JEOL SEM Series da JEOL

Microscopia elettronica a scansione: sistemi flessibili per la ricerca e l'industria

Dai dispositivi da banco al FEG-SEM: soluzioni personalizzate per analisi precise

Ampia gamma di utenti, dai dispositivi desktop entry-level agli emettitori di campo ad alta risoluzione ✓ Dispositivi di misura durevoli, eccellente acquisizione dei dati, dimensioni compatte ✓ Contratti di assistenza efficienti e affidabili e opzioni accessorie personalizzate (EDX, WDX, EBSD, GatherX, ecc) ✓

DM6 M da Leica

Microscopio verticale per materiali

Tutto impostato e salvato

Azionamento della messa a fuoco motorizzato ad alta precisione a 2 velocità ✓ Ogiva motorizzata 6x o 7x ✓ Leica DM6 M + software = sistema di misura ideale per la massima precisione e ripetibilità ✓