Miglioramento dell'analisi delle superfici di silicio

I progressi del fotovoltaico, ad esempio

Un nuovo metodo per analizzare le superfici ruvide del silicio combina la microscopia a forza atomica (AFM) e la spettroscopia di fotoelettroni a raggi X (XPS). In questo modo è più facile correggere gli errori causati dalla rugosità della superficie. Il metodo fornisce risultati più precisi, in ...

Uno spettrometro pionieristico per i raggi X duri all'European XFEL

"Il nuovo spettrometro apre possibilità spettroscopiche completamente nuove alle alte energie dei raggi X"

I ricercatori dell'European XFEL hanno sviluppato un nuovo dispositivo per la misurazione dei raggi X ad alte energie di fotoni, il cosiddetto spettrometro di Laue. Esso consente di rilevare la luce dei raggi X con energie di fotoni superiori a 15 kiloelettronvolt con una migliore efficienza e la ...

Ricerca sulle batterie: visualizzazione dei processi di invecchiamento operando

'Durante la carica o la scarica di una batteria accadono molte cose alle interfacce tra l'anodo, il separatore e il catodo'

Le pile a bottone al litio con elettrodi di ossidi di nichel-manganese-cobalto (NMC) sono molto potenti. Purtroppo, la loro capacità diminuisce nel tempo. Ora, per la prima volta, un team ha utilizzato un metodo non distruttivo per osservare come la composizione elementare dei singoli strati di ...