Comprar microscópios Laboratório Para Análise De Falhas

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LUMOS II por Bruker

Microscopia FT-IR na via rápida - o LUMOS II

Um microscópio de infravermelhos para todos

O nosso foco: a mais elevada qualidade de dados e velocidade de medição ✓ Conceito de funcionamento simples: os utilizadores recebem formação em minutos ✓ Sustentabilidade inteligente: não requer consumíveis dispendiosos ✓

Microscópios FT-IR Analise-de-falhas automação
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DMi8 A por Leica

Microscópio invertido Leica DMi8 para aplicações industriais

Ver mais da amostra

Pode mudar de visualização macro (35 mm) para nano (1 nm) com um simples clique ✓ Maior detalhe com a iluminação UC-3D exclusiva ✓ Manuseamento intuitivo ✓

Microscópios invertidos Analise-de-falhas controle de qualidade interno
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DVM6 por Leica

NÃO PROCUREM, ENCONTREM!

Rápido, fiável e fácil de utilizar

Investigação flexível ✓ Análise rápida e fácil das suas amostras ✓ Resultados fiáveis ✓

Microscópios 3D Analise-de-falhas análise de partículas
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DM8000 M & DM12000 M por Leica

Ver mais, reconhecer mais depressa

Sistemas de inspeção para um rendimento máximo

O design evita a acumulação de poeiras e os fluxos de canto para uma câmara de análise e inspeção limpa ✓ Resolução lateral máxima com a objetiva UV 150X ✓ A objetiva USP 0,7x permite um maior campo de visão e encurta o tempo de análise ✓

Optische Inspektionssysteme Analise-de-falhas análise de wafer
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Emspira 3 por Leica

Inspecções simples e inspiradoras

Inspeção com um único sistema

Poupe tempo com a rápida identificação de amostras ✓ Meça e documente diretamente durante a inspeção visual - sem um PC ✓ Imagens nítidas com menos esforço manual ✓

Microscópios digitais Analise-de-falhas medição de dimensões
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DM6 M por Leica

Microscópio vertical de materiais

Tudo pronto e guardado

Acionamento motorizado e de alta precisão com 2 velocidades ✓ Nariz motorizado 6x ou 7x ✓ A Leica DM6 M + software = sistema de inspeção ideal para máxima precisão e repetibilidade ✓

Microscópios Analise-de-falhas verificação de materiais
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Apreo 2 Scanning Electron Microscope por Thermo Fisher Scientific

Apreo 2 SEM: Microscópio eletrónico de varrimento com propriedades de resolução impressionantes

Versatilidade sem igual graças à tecnologia ChemiSEM

*Desempenho completo* na gama nanométrica ou sub-nanométrica, como nanopartículas, pós ✓ Automação avançada, operação simples, resultados rápidos ✓ Extrema flexibilidade no manuseamento de uma vasta gama de tipos de amostras ✓

Microscópios eletrônicos de varredura Analise-de-falhas análise de falhas
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JEOL SEM Series por JEOL

Microscopia eletrónica de varrimento: Sistemas flexíveis para a investigação e a indústria

Dos aparelhos de bancada ao FEG-SEM: soluções personalizadas para análises precisas

Vasta gama de utilizadores, desde dispositivos de secretária de nível básico até emissores de campo de alta resolução ✓ Dispositivos de medição duradouros, excelente aquisição de dados, dimensões compactas ✓ Contratos de serviço eficientes e fiáveis e opções de acessórios personalizados (EDX, WDX, EBSD, GatherX, etc.) ✓

Analise-de-falhas análise da microestrutura análise de superfície
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HYPERION II por Bruker

Microscópio FT-IR e de imagem laser IR (QCL) para investigação e desenvolvimento

Examinar amostras macroscópicas com resolução microscópica (5 µm) em segundos

Microscopia e imagiologia de infravermelhos (FT-)altamente sensíveis com velocidade máxima no limite de difração ✓ Imagiologia laser de infravermelhos precisa em todos os modos de medição (ATR, transmissão, reflexão) ✓ Redução de coerência patenteada para medições de imagiologia laser sem artefactos a toda a velocidade ✓

Microscópios FT-IR Analise-de-falhas análise de falhas
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