Ricerca sui materiali ripensata – Come far progredire l’analisi delle superfici con l’imaging Raman
Sfrutta i vantaggi dell’imaging Raman per una caratterizzazione completa dei materiali
La microscopia Raman confocale consente un’analisi dettagliata e non distruttiva di semiconduttori, particelle o materiali 2D. Può rivelare proprietà chimiche o strutturali, tra cui distribuzione del materiale, cristallinità, tensione e drogaggio. Tecniche correlate come le indagini di fotoluminescenza forniscono informazioni aggiuntive sulla larghezza di banda proibita banda proibita di un semiconduttore. Combinate, queste analisi sono particolarmente preziose per i semiconduttori composti, poiché spesso sono costituiti da più strati e strutture complesse. Le applicazioni per l’analisi delle particelle includono, ad esempio, la caratterizzazione delle microplastiche o dei composti farmaceutici. I ricercatori nello sviluppo di materiali avanzati possono beneficiare di un’analisi correlativa completa delle proprietà superficiali.
L’e-book applicativo evidenzia i vantaggi della tecnica e mostra in dettaglio come ottenere nuove intuizioni per le applicazioni nella ricerca sui materiali avanzati.
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