Grâce à l’imagerie Raman confocale faites progresser votre recherche sur les matériaux

La microscopie Raman confocale permet une analyse détaillée et non destructive des semiconducteurs, des particules ou des matériaux 2D. Elle peut révéler des propriétés chimiques ou structurelles, notamment la distribution des espèces, leur cristallinité, déformation, les contraintes et le dopage. Les investigations corrélatives par photoluminescence fournissent des informations supplémentaires sur la bande interdite d’un semiconducteur. Combinées, ces analyses sont particulièrement précieuses pour les semiconducteurs, car ils se composent souvent de plusieurs couches et de structures complexes. Les applications pour l’analyse des particules incluent la caractérisation des microplastiques ou des composés pharmaceutiques. Les chercheurs, travaillant sur le développement de matériaux avancés, peuvent bénéficier d’une analyse corrélative complète des propriétés de surface.

L’e-book d’applications met en évidence les avantages de cette technique et présente en détail comment obtenir de nouvelles perspectives pour les applications de recherche sur les matériaux avancés.