Microscope d’imagerie Raman 3D alpha300 R

Une caractéristique unique des microscopes confocal de WITec

alpha300 Microscope de haute résolution pour imagerie Raman 3D ultrarapide

Image Raman 3D d’une émulsion pharmaceutique

Image Raman 3D du miel: grains de pollen (vert), cristaux de sucre (phases bleutée)

Image corrélée Raman-AFM: Raman (gauche) et AFM (droite) de la même région d’un mélange de polymères

Microscope Raman WITec alpha300: Pas de compromis sur la confocalité. Approprié pour l’analyse Raman 3D de diffèrent types d’échantillons avec une haute résolution spectrale et spatiale

Le microscope confocal Raman alpha300 de WITec est un unique instrument capable d’acquérir des images spectrales Raman ultrarapides tout en conservant une haute résolution spatiale et spectrale. Cette propriété est particulièrement importante pour la caractérisation et la visualisation des composés chimiques à la surface et à l’intérieur des échantillons. L’alpha300 permet l’analyse en profondeur, l’imagerie 3D et l’acquisition d’images Raman sur des échantillons très  rugueux. En effet la technologie TrueSurface, unique aux microscopes WITec, permet de corriger la position du plan focal lors de l’analyse Raman en utilisant la topographie réelle de l’échantillon. Les images Raman ultrarapides sont obtenues à la vitesse de 1300 spectres par seconde tout en maintenant la résolution spatiale à la limite de diffraction, soit 200nm.

La modularité de la technologie WITec et la haute sensitivité de sa gamme de spectromètres UHTS sont deux avantages majeurs pour l’utilisateur. Chaque spectromètre est optimisé pour une région spectrale donnée. Ceci leur confère une efficacité quantique largement supérieure à tous les spectromètres classiques. Ceci permet des analyses avec une faible puissance laser pour éviter la destruction d’échantillons. Les pics Raman obtenus sont des fonctions de Lorentz presque qu’idéales avec une résolution d environs 0.1 rel.cm-1/pixel.

La fonction TruePower unique aux microscopes WITec permet de contrôler la valeur absolue de la puissance laser de façon continue avec des pas de 0,1mW. La valeur de la puissance laser est sauvegardée avec les spectres et les images, permettant à l’utilisateur de répéter les mesures dans les mêmes conditions expérimentales. Cette approche rend obsolète l’utilisation des filtres optiques qui ne donne accès qu’a une valeur relative de la puissance.

La modularité du Microscope WITec permet l’intégration facile et sans compromis d’autres techniques de microscopie. WITec est pionnier dans le développement de plateformes expérimentales intégrant la microscopie Raman, l’AFM, le SNOM. Le passage d’une technique à l’autre se faisant juste en tournant la tourelle d’objectifs. L’intégration de la profilométrie optique au microscope Raman, patente de WITec, a permis pour la première fois l’imagerie Raman à haute résolution sur de larges échantillons, rugueux et fortement inclinés. Cette solution évite le polissage et les différentes méthodes complexes de préparation d’échantillons. Avec l’introduction du RISE, WITec a rendu pour la première fois possible, sur un seul instrument, l’acquisition d’images corrélées Raman et MEB dans la même région de l’échantillon.

L’imageur Raman alpha300 de WITec offre à l’utilisateur la possibilité d’acquérir des images Raman 3D ultrarapides, sans compromis sur la résolution spatiale et spectrale. Le logiciel WITec SUITE 4, facile et intuitif, inclut de nombreux outils d’analyses et d’acquisition de données pour différents domaines d’applications.

Applications

  • Recherche pharmaceutique (distribution des principes actifs et des excipients, cinétique des excipients, …)
  • Science de la vie et biomédecine (analyse des cellules vivantes, analyse des tissus, …)
  • Forensique (Analyse des matériaux, encres,…)
  • Science des matériaux et nanotechnologie (composes 2D, nanoparticules, analyse des surfaces, …)
  • Revêtements et couches minces (compositions et épaisseur des revêtements, étude en profondeur, homogénéité, …)
  • Photovoltaïques et semiconducteurs (analyse de la tension, revêtements, …)
  • Caractérisation des polymères (structure des surfaces, cristallinité, …)

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