Spectromètres de fluorescence X à dispersion d'énergie:
NEX DE Series
Série NEX DE pour l'analyse élémentaire haute performance et l'analyse de petits points
Les spectromètres de la série NEX DE de Rigaku sont des spectromètres à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) à excitation directe et hautes performances, destinés à l'analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide et non destructive. Les modèles NEX DE et NEX DE VS mesurent les éléments allant du sodium (Na) à l'uranium (U), dans des concentrations allant de faibles concentrations en parties par million à des pourcentages massiques élevés. Les deux modèles prennent en charge une large gamme de types d'échantillons, notamment les liquides, les solides, les alliages, les poudres, les boues, les pâtes, les revêtements et les films minces.
Les deux modèles de la série NEX DE sont équipés d’un tube à rayons X de 60 kV et 12 W, de filtres tubulaires automatisés à une ou plusieurs couches, ainsi que d’un détecteur à dérive de silicium (SDD) à haut débit prenant en charge des taux de comptage supérieurs à 500 000 comptages par seconde. Cette combinaison offre une excellente résolution spectrale, de faibles limites de détection et la précision requise pour les mesures exigeantes ou urgentes. La grande chambre d’échantillonnage peut accueillir des objets mesurant jusqu’à 30 cm de diamètre et 10 cm de hauteur, tandis que les changeurs d’échantillons automatiques interchangeables permettent une analyse par lots efficace. Un film de protection sans outil permet de préserver les composants optiques des éclaboussures et simplifie l’entretien courant.
Pour les applications nécessitant une analyse ciblée de petites zones, le NEX DE VS intègre une caméra rétroéclairée haute résolution et des collimateurs automatisés pour une analyse de spots de 1, 3 et 10 mm. Son interface « Point Analysis » permet aux opérateurs de positionner des zones spécifiques d’un échantillon en vue de la mesure. Ces capacités font du NEX DE VS un instrument particulièrement adapté aux applications nécessitant une analyse par petits points, notamment les mesures de revêtements sur de petits composants, le tri des déchets électroniques, l’identification de corps étrangers et les enquêtes médico-légales. Le NEX DE offre les mêmes performances élevées en analyse globale, sans le système variable de mesure par petits points.
Les instruments de la série NEX DE utilisent le logiciel QuantEZ pour le contrôle de l’instrument, l’élaboration des étalonnages, les analyses de routine et la génération de rapports. Son interface multilingue et sa barre de flux guidée simplifient la création de méthodes basées sur des paramètres empiriques et fondamentaux. Le logiciel RPF-SQX, disponible en option, prend en charge l’analyse semi-quantitative de matériaux inconnus et des applications quantitatives plus avancées. Cette série est destinée à des applications dans les domaines de l’exploration, de l’exploitation minière, du pétrole, du ciment, des métaux, des polymères, du contrôle de conformité RoHS, des produits pharmaceutiques, de la criminalistique, de l’enseignement, de la recherche et du contrôle qualité industriel. Qu’elle soit utilisée en laboratoire, sur un site de production ou sur le terrain, la série NEX DE allie performances analytiques, gestion flexible des échantillons et simplicité d’utilisation.
Note : Cet article a été traduit automatiquement. LUMITOS offre ce service pour rendre les informations sur les produits disponibles dans plus de langues. Comme cet article a été créé de manière automatisée, des erreurs et des différences par rapport à l'original sont possibles. Vous trouverez la présentation originale en Anglais ici.
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