Système de fluorescence X Epsilon 4

Analyse élémentaire rapide et puissante

Le nouveau spectromètre de fluorescence X (XRF) de paillasse Epsilon 4 secoue le monde de l’analyse élémentaire. Ses performances d’analyse exceptionnelles en terme de limite de détection et de rapidité, le rendent idéal pour le contrôle de procédé et la qualité produit. La stabilité à long terme d'Epsilon 4 garantit des résultats conformes aux exigences des normes les plus strictes...