Grande competenza sulle piccole particelle - Giornate di esperti sulla caratterizzazione delle particelle alla LUM Francia
Il 24 e 25 giugno, LUM France e LUM GmbH organizzano le giornate di esperti sulla caratterizzazione delle particelle presso la sede di LUM France a Plaisir (Parigi). I clienti francesi sono cordialmente invitati a ricevere una formazione teorica sui dispositivi di misurazione di LUM GmbH e a convincersi dei vantaggi misurando i propri campioni. Questa volta l'attenzione è rivolta al LUMiSpoc®.
Il LUMiSpoc® è un sistema avanzato di analisi di singole particelle, simile a un citometro a flusso, che misura la distribuzione granulometrica e la concentrazione di nano e microparticelle in sospensioni ed emulsioni con una risoluzione e una gamma dinamica senza precedenti. Lo strumento si avvale della tecnologia SPLS® brevettata, una tecnologia che registra la luce diffusa da singole nano e microparticelle in direzione anteriore e laterale durante la trasmissione di un raggio laser con una sezione trasversale specifica. Questa tecnologia fornisce una visione approfondita di sistemi complessi di nano e submicro particelle che può essere utilizzata per progettare particelle e dispersioni su misura.
Gli esperti Elia Wollik e Sylvain Gressier terranno delle conferenze in loco. Elia Wollik è Senior Product Specialist presso LUM GmbH, specializzato in analisi delle nanoparticelle e tecniche di misurazione ottica. Il suo lavoro si concentra sull'ulteriore sviluppo e sull'ottimizzazione degli strumenti analitici, sull'identificazione di nuove aree di applicazione e sul supporto di collaborazioni di ricerca e sviluppo, nonché sulle analisi di campioni specifici per i clienti. Ha partecipato in modo significativo allo sviluppo e al lancio sul mercato del LUMiSpoc®. Elia Wollik ha conseguito un master in tecnologia farmaceutica e chimica con particolare attenzione all'analisi delle particelle e alla diffusione della luce.
Sylvain Gressier, laureato in genetica umana all'Università di Evry Val d'Essonne, poi rappresentante sul campo e manager di lunga data della filiale francese di LUM GmbH, vanta 13 anni di esperienza pratica e teorica senza pari nell'uso dei dispositivi di misurazione LUM per la caratterizzazione di micro e nanoparticelle in Francia, per i test diretti di stabilità accelerata di dispersioni ed emulsioni e per i test sui materiali. Collaborando con aziende industriali e partecipando a simposi e conferenze scientifiche e accademiche internazionali, allinea le esigenze degli utenti con le soluzioni tecniche e commerciali attuali e future di LUM. Al 14° World Filtration Congress (WFC 14), che si terrà a Bordeaux dal 30 giugno al 4 luglio, Sylvain Gressier terrà una conferenza sul tema: Efficienza di filtrazione monitorata mediante conteggio e dimensionamento delle particelle con la Single Particle Light Scattering Technology® (SPLS).
Nota: questo articolo è stato tradotto utilizzando un sistema informatico senza intervento umano. LUMITOS offre queste traduzioni automatiche per presentare una gamma più ampia di notizie attuali. Poiché questo articolo è stato tradotto con traduzione automatica, è possibile che contenga errori di vocabolario, sintassi o grammatica. L'articolo originale in Inglese può essere trovato qui.
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