Grande experiência em pequenas partículas - jornadas de especialistas em caraterização de partículas no LUM França
Nos dias 24 e 25 de junho, a LUM France e a LUM GmbH organizam as jornadas de peritos em caraterização de partículas na sede da LUM France em Plaisir (Paris). Os clientes de França são cordialmente convidados a receber formação teórica sobre os dispositivos de medição da LUM GmbH e a convencerem-se das vantagens através da medição das suas próprias amostras. Desta vez, o foco é o LUMiSpoc®.
O LUMiSpoc® é um sistema avançado de análise de partículas individuais, semelhante a um citómetro de fluxo, que mede a distribuição do tamanho das partículas e a concentração de partículas de nano e micropartículas em suspensões e emulsões com uma resolução e uma gama dinâmica sem precedentes. O instrumento utiliza a tecnologia patenteada SPLS Technology®, uma tecnologia que regista a luz dispersa por nano e micropartículas individuais nas direcções frontal e lateral enquanto transmite um feixe de laser com uma secção transversal específica. Proporciona uma visão profunda de sistemas complexos de nano e submicro partículas que podem ser utilizados para conceber partículas e dispersões adaptadas.
Os especialistas Elia Wollik e Sylvain Gressier darão palestras no local. Elia Wollik é Especialista Sénior de Produto na LUM GmbH, especializada em análise de nanopartículas e técnicas de medição ótica. O seu trabalho centra-se no desenvolvimento e otimização de instrumentos analíticos, na identificação de novas áreas de aplicação e no apoio a colaborações de investigação e desenvolvimento, bem como em análises de amostras específicas de clientes. Esteve significativamente envolvido no desenvolvimento e lançamento no mercado do LUMiSpoc®. Elia Wollik tem um mestrado em tecnologia farmacêutica e química com foco em análise de partículas e dispersão de luz.
Sylvain Gressier, licenciado em genética humana pela Universidade de Evry Val d'Essonne, depois representante no terreno e gerente de longa data da filial francesa da LUM GmbH, tem 13 anos de experiência prática e teórica sem paralelo na utilização de dispositivos de medição LUM para a caraterização de micro e nanopartículas em França, para testes diretos de estabilidade acelerada de dispersões e emulsões e para testes de materiais. Ao colaborar com empresas industriais e ao participar em simpósios e conferências científicas e académicas internacionais, alinha as necessidades dos utilizadores com as soluções técnicas e comerciais actuais e futuras do LUM. No 14º Congresso Mundial de Filtração (WFC 14) em Bordéus, de 30 de junho a 4 de julho, Sylvain Gressier dará uma palestra sobre o tema: Eficiência de filtração monitorizada por contagem de partículas e dimensionamento utilizando a tecnologia Single Particle Light Scattering Technology® (SPLS).
Observação: Este artigo foi traduzido usando um sistema de computador sem intervenção humana. A LUMITOS oferece essas traduções automáticas para apresentar uma gama mais ampla de notícias atuais. Como este artigo foi traduzido com tradução automática, é possível que contenha erros de vocabulário, sintaxe ou gramática. O artigo original em Inglês pode ser encontrado aqui.
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