Un nuovo sistema di caratterizzazione semplifica i test sui film sottili con un software automatizzato
Il Fraunhofer IPMS collabora con due startup per sviluppare supporti di campionamento per l'elettronica organica e i sensori di gas
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Il Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems IPMS ha lanciato il progetto SMut, finanziato con fondi pubblici, in collaborazione con i suoi partner Credoxys e SweepMe! per sviluppare un sistema di misura innovativo per la caratterizzazione precisa di film sottili. Questo sistema consentirà di condurre esperimenti in condizioni variabili, stabilendo nuovi standard nella caratterizzazione dei materiali organici.
Il Fraunhofer IPMS ha recentemente presentato nuovi chip e adattatori di misura per la caratterizzazione di film sottili di materiali utilizzati nell'elettronica organica e nei sensori di gas. Sulla base di ciò, è stato lanciato il progetto SMut, finanziato con fondi pubblici, in cui il Fraunhofer IPMS e i suoi partner Credoxys e SweepMe! stanno unendo le loro competenze per sviluppare un nuovo sistema di misurazione.
Questo sistema innovativo comprenderà una stazione di base e più portacampioni che possono essere caricati con campioni di ricerca in una scatola a guanti. Ciò consentirà di condurre vari esperimenti elettrici e fotoelettrici in presenza di gas, pressioni e temperature diverse. "Il portacampioni deve essere facile da maneggiare in una scatola a guanti, rimovibile sotto gas protettivo e in grado di effettuare misurazioni a lungo termine per diverse settimane", spiega il dottor Alexander Graf, responsabile del progetto presso il Fraunhofer IPMS.
Grazie allo sviluppo del software SweepMe! è possibile configurare in modo intuitivo quasi tutti i dispositivi e le routine di misura. "La soluzione software di questo progetto consentirà per la prima volta una piattaforma di caratterizzazione intuitiva e pronta all'uso", afferma il Dr. Axel Fischer, amministratore delegato di SweepMe! GmbH, riassumendo gli obiettivi del progetto.
Il Dr. Jörn Vahland, sviluppatore di materiali presso Credoxys GmbH, è entusiasta delle nuove possibilità che il sistema di misura offrirà. "L'impegno che attualmente mettiamo nella caratterizzazione dei nostri materiali OLED è enorme. Le misure a lungo termine in condizioni di atmosfera e temperatura controllate sono attualmente particolarmente impegnative. Questo sistema porterà la caratterizzazione dei film sottili a un livello completamente nuovo. La riproducibilità e le capacità di misura sono sensazionali".
Il concetto di base e il progetto del sistema fondamentale saranno presentati ai visitatori interessati presso lo stand del Fraunhofer IPMS ad Analytica, che si trova nel padiglione A3¬#312.
Nota: questo articolo è stato tradotto utilizzando un sistema informatico senza intervento umano. LUMITOS offre queste traduzioni automatiche per presentare una gamma più ampia di notizie attuali. Poiché questo articolo è stato tradotto con traduzione automatica, è possibile che contenga errori di vocabolario, sintassi o grammatica. L'articolo originale in Inglese può essere trovato qui.
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