Un nouveau système de caractérisation simplifie les essais sur les couches minces grâce à un logiciel automatisé
Le Fraunhofer IPMS collabore avec deux jeunes entreprises pour développer des supports d'échantillons pour l'électronique organique et les capteurs de gaz
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L'Institut Fraunhofer pour les microsystèmes photoniques IPMS a lancé le projet SMut, financé par des fonds publics, en collaboration avec ses partenaires Credoxys et SweepMe ! afin de développer un système de mesure innovant pour la caractérisation précise des couches minces. Ce système permettra de réaliser des expériences dans des conditions variables, établissant ainsi de nouvelles normes dans la caractérisation des matériaux organiques.
Le Fraunhofer IPMS a récemment présenté de nouvelles puces et de nouveaux adaptateurs de mesure pour la caractérisation des couches minces de matériaux utilisés dans l'électronique organique et les capteurs de gaz. Sur cette base, le projet SMut, financé par des fonds publics, a été lancé. Le Fraunhofer IPMS et ses partenaires Credoxys et SweepMe ! mettent en commun leur expertise pour développer un nouveau système de mesure.
Ce système innovant comprendra une station de base et plusieurs porte-échantillons qui peuvent être chargés avec des échantillons de recherche dans une boîte à gants. Cela permettra de réaliser diverses expériences électriques et photoélectriques sous différents gaz, pressions et températures. "Le porte-échantillon doit être facile à manipuler dans une boîte à gants, amovible sous gaz protecteur et capable d'effectuer des mesures à long terme sur plusieurs semaines", explique le Dr Alexander Graf, chef de projet au Fraunhofer IPMS.
Grâce au développement du logiciel SweepMe !, presque tous les appareils de mesure et toutes les routines peuvent désormais être configurés de manière intuitive. "La solution logicielle de ce projet permettra pour la première fois de disposer d'une plateforme de caractérisation intuitive et prête à l'emploi", déclare Axel Fischer, directeur général de SweepMe ! GmbH, résume les objectifs du projet.
Jörn Vahland, développeur de matériaux chez Credoxys GmbH, est enthousiaste quant aux nouvelles possibilités offertes par le système de mesure. "Les efforts que nous consacrons actuellement à la caractérisation de nos matériaux OLED sont énormes. Les mesures à long terme dans des conditions d'atmosphère et de température contrôlées sont particulièrement difficiles à l'heure actuelle. Ce système portera la caractérisation des couches minces à un tout autre niveau. La reproductibilité et les capacités de mesure sont sensationnelles".
Le concept de base et la conception fondamentale du système seront présentés aux visiteurs intéressés sur le stand du Fraunhofer IPMS à Analytica, qui se trouve dans le hall A3¬#312.
Note: Cet article a été traduit à l'aide d'un système informatique sans intervention humaine. LUMITOS propose ces traductions automatiques pour présenter un plus large éventail d'actualités. Comme cet article a été traduit avec traduction automatique, il est possible qu'il contienne des erreurs de vocabulaire, de syntaxe ou de grammaire. L'article original dans Anglais peut être trouvé ici.
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