Novo sistema de caraterização simplifica os testes de película fina com software automatizado
Fraunhofer IPMS colabora com duas empresas em fase de arranque para desenvolver suportes de amostras para eletrónica orgânica e sensores de gás
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O Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems IPMS lançou o projeto SMut, financiado por fundos públicos, em colaboração com os seus parceiros Credoxys e SweepMe! para desenvolver um sistema de medição inovador para a caraterização precisa de películas finas. Este sistema permitirá a realização de experiências em condições variáveis, estabelecendo novos padrões na caraterização de materiais orgânicos.
O Fraunhofer IPMS apresentou recentemente novos chips e adaptadores de medição para caraterizar películas finas de materiais utilizados em eletrónica orgânica e sensores de gás. Com base nisto, foi lançado o projeto SMut, financiado por fundos públicos, no qual o Fraunhofer IPMS e os seus parceiros Credoxys e SweepMe! estão a reunir os seus conhecimentos para desenvolver um novo sistema de medição.
Este sistema inovador será composto por uma estação de base e vários suportes de amostras que podem ser carregados com amostras de investigação numa caixa de luvas. Isto permitirá a realização de várias experiências eléctricas e fotoeléctricas sob diferentes gases, pressões e temperaturas. "O transportador de amostras deve ser fácil de manusear num porta-luvas, amovível sob gás de proteção e capaz de efetuar medições a longo prazo durante várias semanas", explica o Dr. Alexander Graf, gestor de projeto no Fraunhofer IPMS.
Graças ao desenvolvimento do software SweepMe!, quase todos os dispositivos e rotinas de medição podem agora ser configurados intuitivamente. "A solução de software deste projeto irá permitir, pela primeira vez, uma plataforma de caraterização intuitiva e pronta a utilizar", afirma o Dr. Axel Fischer, diretor-geral da SweepMe! GmbH, resumindo os objectivos do projeto.
O Dr. Jörn Vahland, um programador de materiais na Credoxys GmbH, está entusiasmado com as novas possibilidades que o sistema de medição irá oferecer. "O esforço que atualmente dedicamos à caraterização dos nossos materiais OLED é enorme. Atualmente, as medições a longo prazo em condições de atmosfera e temperatura controladas são particularmente difíceis. Este sistema levará a caraterização de películas finas a um nível totalmente novo. A reprodutibilidade e as capacidades de medição são sensacionais".
O conceito básico e o design fundamental do sistema serão apresentados aos visitantes interessados no stand do Fraunhofer IPMS na Analytica, que se encontra no pavilhão A3¬#312.
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