Simultix 15

Le Rigaku Simultix 15 combine la résolution d'analyse élémentaire d'un WDXRF
avec la vitesse d'analyse d'un EDXRF, ce qui le rend idéal pour mesurer un
très grand nombre d'échantillons solides, en poudre ou liquides. Le Simultix
15 répond aux besoin des industries comme les cimenteries, les aciéries le
traitement des minéraux. Le Simultix 15 mesures tous les éléments en même
temps selon ta technique de WDXRF en parallèle ce qui fournis des résultats
très précis et très reproductibles pour un temps d’acquisition très court.
Le Simultix 15 est la solution optimale pour des analyses rapide et à faible
coût.

La géométrie unique du Simultix 15 de Rigaku avec le tube rayons X positionné
au-dessus de l’échantillon fait que les contaminations ne tombent pas sur le
tube ou le détecteur ce qui garantit les résultats les plus précis possibles.

Caractéristiques principales

• Gamme d’analyse - Be à U
• Générateur haute tension - 4 kW (ou 3 kW en option)
• Analyse rapide - Acquisition simultané de tous les canaux.
• Configuration optique avec le tube au-dessus
• Jusqu'à 40 canaux fixes - 30 canaux en standard et jusqu’à 40 canaux en option
• Automatisation – En option, un convoyeur à bande permet de changer les échantillons tout en étant compatible avec les solutions de préparation d’échantillon automatique.
• Cristaux multicouches synthétiques, SÉRIE RX – le nouveau cristal RX85 permet d’avoir 30% d’intensité en plus pour Be-K et B-K que les cristaux existants sur le marché.
• Canal DRX –Permet de faire des analyses qui combinent les analyses par XRF et diffraction.
• Cristaux à double courbure – Cette forme de cristaux permet d’augmenter l'intensité du signal mesurée par rapport aux cristaux courbe.
• Logiciel facile à utiliser – La même barre de menu que celle utilisé dans le logiciel ZSX simplifie les opérations de réglage et d’optimisation des conditions d’analyses quantitatives.
• Goniomètre séquentiel – En option, le goniomètre permet d’analyser les éléments lourds et légers et de faire de l’analyse qualitative ou semi-quantitative sans standards (méthode FP) pour analyser des éléments analysés ponctuellement.
• Mesure de ligne de base (B) pour les éléments traces – En option, il est possible pour un canal fixe de déterminer la ligne de base, ce qui permet d'améliorer les courbes de calibration et d'obtenir une précision d’analyse supérieure.
• Contrôle automatique de la pression (APC) - Maintient un niveau de vide constant dans la chambre de mesure pour améliorer la précision de l'analyse des éléments légers.
• Méthode quantitative du rapport de diffusion de l’intensité du tube- Cette option utilise la mesure de l’intensité du pics de diffusion Compton pour déterminer les alphas théoriques pour l'étalonnage du rapport de diffusion. Cette méthode permet d’améliorer la quantification des minerais et des échantillons concentrés.

Analyse XRF rapide et précise.

Adapté à l'analyse de Be à U dans presque toutes les matrices
d'échantillons, le Simultix 15 analyse simultanément jusqu'à 30 éléments
(jusqu'à 40 en option), avec une source rayons X de 4 kW (ou 3 kW en option)
pour une vitesse et une sensibilité de mesures maximales. Son interface
logicielle intuitive et simple d'utilisation simplifie vos mesures et vos
analyses. Le Simultix 15 est l’équipement idéal pour analyser rapidement vos
échantillons.
Contrairement à la plupart des instruments WDXRF qui sont des spectromètres
séquentiels, qui effectuent un balayage séquentiel, le Simultix 15 grâce à
ces canaux fixes analyse simultanément tous les éléments, ce qui permet
d'effectuer des analyses très rapidement. Le système peut être configuré en
fonction des éléments importants que vous avez besoin d’analyser.

Passeur automatique d'échantillons.

Pour une analyse XRF à haut débit, le Simultix 15 peut être équipé d'un
passeur automatique d'échantillons (ASC) à 48 positions. Il peut être aussi
configuré avec une alimentation par un convoyeur à bande positionné soit à
gauche ou à droite ou alimentée par un système de préparation
d'échantillons automatisé tiers.

Flexibilité.

Pour une flexibilité maximale, le Simultix 15 peut être équipé d'un
goniomètre pour mesurer d'autres éléments, ainsi que d'une solution de
diffraction (DRX) pour l'analyse des phases.